1. 이런 롬은 휘발성이 있는지 (없겠지만요)
2. PROM의 경우 데이터가 손실된 경우로 보셨는지
3. 만약 모든 저장소가 같은(n-channel MOSFET) 롬을 사용한다고 가정할 때, 다수의 기기에서 특정 모듈의 롬만 인식되지 않는 현상이 동일하게 나타난다면, 그 모듈의 주변 칩들을 의심해봐야 할지.
궁금합니다.
그리고 TTL칩은...
1. 40년간 일반 환경과는 다른 환경에서 지속적으로 사용했을 시 쉬이 고장나는지.
2. LS, HC가 아닌 표준 TTL일 경우 TTL은 내구도 측면에서 어떤 특성을 가지는지.
여쭙고 싶습니다.
감사합니다.
데이터시트 같은 걸 보면 보증하는 기간이 나와있을 듯 합니다.
아예 회로를 퓨즈 끊듯이 끊어버리는 형태라면 (1회용 기록) 상대적으로 오래 보존이 되지 않을까요?
그리고 패키징을 뭘로 했느냐에 따라 수명이 많이 바뀔텐데...
확실한 건 스팩시트에 나와있을 것 같습니다.
일반적으로 제조시에 데이터를 써 넣는 PROM은 대량생산을 위해 OTP타입을 쓰는데
OTP타입의 ROM은 내부 퓨즈를 태우는 방식이라 어지간한 일로는 파손되지 않습니다..
혹시 UVEPROM이나 EEPROM, FLASH라면 다시 쓰기의 횟수 제한이 있고
특히 UVEPROM은 빛 차단을 잘 해주지 않으면
회로의 문제 없이도 시간이 지남에 따라 내부 데이터의 무결성에 문제가 생길 수도 있습니다.
2. PROM도 쓰기 가능한 수준 이상의 고전압에 노출되는등의 문제가 발생시
데이터나 자체 손상이 있을수도 있습니다.
3. 디지털 회로 제작 측면에서 어떤 부품이 MOSFET으로 제조되었다는것은
말 그대로 그 부품이 MOSFET로 제조되었다는 의미일 뿐입니다.
일반 바이폴라기반과는 입출력 특성등이 조금 달라지기는 하는데
주변 모듈과 해당 부품의 관계에서 논리H,L의 노이즈마진, fanout등이 제대로 설계 되었다면
동작되어야 하는것이 맞습니다.
1. 일반 환경과 다른 환경이라는 환경이 어떤것인지는 모르겠습니다만
진동, 습기, 자외선등 환경에 의해 패키지 사이의 부식이 발생하는등의 문제가 있기는 합니다
2. LS나 HC등 형번으로 비교하시는 것이라면 큰 의미가 없습니다.
어떤 패키지를 사용하는지등 각 제조사마다 데이터시트를 확인해야 합니다.
그리고 내구성이나 신뢰도를 유의하게 비교하시려면 54, 64, 74와 같이 형번의 앞자리를 비교하셔야 합니다.