SSD »óÅ °ü·Ã ¹®Àǵ帳´Ï´Ù.

   Á¶È¸ 8566   Ãßõ 0    

히스토리를 알 수 없는 중고 SSD 2개가 수중에 들어왔습니다.

 

기본적으로 정체가 불분명한데...델 파츠(D/PN G613R)구요...제조사는 삼성인 것으로 보이고...100GB SLC 인 것 같습니다.

아마도...Equal Logic 스토리지에 들어가 있던 제품 같습니다.

(사용시간이 18,000 시간을 넘는군요. 쿨럭~)

 

사용시간이야 어떻든...웨어 레벨링 카운트만 괜찮으면 캐쉬 용도로 써보려고 하는데요.

SMART 상에서...Current 98, Worst 98, Threshold 0, Raw Values 5B0 로 보입니다.

Write 테스트를 좀 돌려보면 Raw Values 가 증가합니다.

 

그 외에...

 

Unused Reserved Block Count (Total)....Current 95, Worst 95, Threshold 0, Raw Value 267E

Used Reserved Block Count (Total)...Current 96, Worst 96, Threshold 10, Raw Value 1A2 

 

정도이네요.

 

사용해도 무방한 건지...수명이 어느 정도 남은 것인지...도움 말씀 부탁드립니다.

ªÀº±Û Àϼö·Ï ½ÅÁßÇÏ°Ô.
http://www.samsung.com/global/business/semiconductor/minisite/SSD/downloads/document/SSD_Application_Note_SMART_final.pdf


¿þ¾î ·¹º§¸µ Ä«¿îÆ® Raw Values 5B0 Àüü cellµéÀÇ Æò±Õ erase cycleÀÌ 1456ȸ¶ó´Â ÀǹÌÀÎ °Í °°±º¿ä.

´ëÃæ
MLC 10,000ȸ
TLC 3,000~5,000ȸ
SLC 100,000ȸ


SLC³ª MLC·Î ¸¸µç SSD¶ó¸é ¾ÆÁ÷ ±¦ÂúÀº °Í °°³×¿ä.

used reserved blockÀÇ RAW °ª°ú unused °ªÀ» ºñ±³ÇØ º¸¸é unused°¡ 96%Âë µÇ³×¿ä. ¾ÆÁ÷ ÃæºÐÇÏ´Ù´Â À̾߱â.


Á¦Á¶»ç¸¶´Ù SMART¿¡ Ç¥½ÃÇÏ´Â °ªÀÇ Àǹ̰¡ ´Ù¸£±âµµ Çؼ­ È®½ÇÇÑ Àǹ̸¦ ÆľÇÇϱâ´Â ¾î·Æ½À´Ï´Ù¸¸...

write¸¦ ÇØ º» µÚ used°¡ Á» Áõ°¡ÇÏ°í unused°¡ Á» °¨¼ÒÇÏ°í leveling count°¡ Á» Áõ°¡ÇÑ´Ù¸é ´ëÃæ ±×·± ÀǹÌÀÏ °Ì´Ï´Ù.
"SMART »ó¿¡¼­...Current 98, Worst 98, Threshold 0, Raw Values 5B0 ·Î º¸ÀÔ´Ï´Ù."

1. http://www.samsung.com/global/business/semiconductor/minisite/SSD/downloads/document/SSD_Application_Note_SMART_final.pdf
177 Wear Leveling Count
This attribute represents the number of times a block has been erased. This value is directly related to the lifetime of the SSD. The raw value of this attribute shows the average erase cycles of total blocks.

raw value 5BO¸¦ ½ÊÁø¹ýÀ¸·Î Çϸé 1456ÀÌ´Ï Àüü ºí·° Æò±Õ erase cycleÀÌ 1456ȸ¶ó´Â °Í °°°í

2. http://media.kingston.com/support/downloads/MKP_521.1_Predator_SMART_attribute.pdf
177 B1h Wear Leveling Count
Number of erase/program cycles per block on average. This attribute is intended to be an indicator of imminent wear-out.
Normalized Equation: 100 – ( 100 * Average Erase Count / NAND max rated number of erase cycles)

98À̶ó´Â Àǹ̴ (Average Erase Count / NAND max rated number of erase cycles)°¡ 2%¶ó´Â °Í °°³×¿ä.


À̸® º¸¾Æµµ Àú¸® º¸¾Æµµ ³Î³ÎÇÑ °Í °°½À´Ï´Ù.
µµ¿ò¸»¾¸ °¨»çµå¸³´Ï´Ù~

SATA2 ¶ó Á» ´À¸®°Ú°Å´Ï..Çߴµ¥...CDM µ¹·Áº¸´Ï..4K ¼Óµµ°¡ Á» ¸¹ÀÌ ´À¸®³×¿ä. (ÀÎÅÚ 310 ¿¡ ºñÇؼ­µµ ´À¸®³×¿ä. ½ÃÄö¼ÈÀº Á» ³´±¸¿ä)
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QnA
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