>> RMT event 발생 이후 신규로 구입한 메모리 (적색 박스 표시된 ) ;; CK0Q2 (신규 구입16GB), CK0 (기존 사용된 16GB) , 두 모델은 동일한 스펙 확인
구입한 메모리 으로 교체후 테스트 ....
>> DIMM2 위치에서 발생 --> 해당 메모리 모듈을 DIMM4 로 이동
>> DIMM4 위치에서 발생 .... --> DIMM4 위치 메모리 모듈 제거 ...
>> DIMM4 위치 메모리 모듈 제거후 RMT event 발생 없는 상태 확인
>> 이전 사용한 메모리 모듈과 완전히 동일한 모델명을 갖는 메모리 구입후 테스트에서 RMT event 발생 하지 않음 ...
CK0 (기존 사용된 16GB)는 이전에는 RMT event 가 발생되지 않았지만 최근에 RMT event 발생 이후 DELL &610, DELL5610 모두 에서 오류 발생
CK0Q2 (신규 구입16GB)와 RMT event M생한 CK0 (기존 사용된 16GB) 모두 DELL Diagonostic Test와 Mem66 테스트에서 PASS ..
PWR-ON 시에 메모리 오류 검출 하는 RMT 가 매우 까다로운 검출 알고리즘을 사용하므로 기존의 정상 동작하던 메모리도 오류를 리포트하고
CK0Q2는 CK0 보다 생산년도 차이가 있는 개량 버전이지만 RMT 오류 발생 ...
DRAM은 전원 인가후 파워온 시이퀀스 라는 것이 있습니다.
리셋 릴리즈 이후 DDR 컨트롤러가 일련의 시이퀀스가 SPD 정보를 읽고 멀티 DQ timing aliment 를 수행하는 과정을 말합니다.
DDR 메모리 모듈은 온도, 전압 및 PCB 라우팅 차이로 64비트의 DQ data capture 타이밍이 조금씩 차이가 나므로 최적의 DQS 검출되는
윈도우를 이동하는 트레이닝 과정을 수행 합니다.
이때 트레이닝에서 최적화된 캡쳐 타이밍을 지하는 오류가 발생하면 이슈가 있는 상태로 디폴트 타이밍으로 동작하게 됩니다.
따라서 보통의 메모리 테스트에서 PASS 하는 이유 입니다.
하지만 최적의 DQS 타이밍이 아니므로 온도, 전압이 변동이 발생할 때는 메모리 데이터 전송 에러가 발생 될 수 있습니다.
아래의 메모리 오버 클럭킹 테스트하는 TM5 를 사용해서 테스트 항목을 구성 해서 세부항목을 테스트 할 수 있습니다.
다만 러시아 이므로 번역해서 보셔야 합니다.
저는 이 툴을 사용하기에는 너무 번거롭기도 하고 이베이 판매자에게 이슈를 제기하고 환불 받아서
RMT 오류가 발생 하지 않는 메모리 재 구입으로 목적이 달성 되므로 이 툴을 사용해서 테스트는 하지 않았습니다.
이 툴은 오버클럭킹 이후 시스템 안정성 확보를 위해서 테스트할때 DDR timiming paramter 최적화를 얻을때 주로 사용 됩니다.
매우 세부적인 테스트 항목 구성이 가능하므로 ... DDR spec 리뷰가 필수적입니다. 너무 멀리 가게 됩니다. ㅎㅎㅎㅎ
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